首页> 中文期刊>红外与毫米波学报 >短波HgCdTe光电二极管中缺陷能级对器件性能的影响

短波HgCdTe光电二极管中缺陷能级对器件性能的影响

     

摘要

利用变频导纳谱研究了Hg1-xCdxTe(x=0.6)n^+-on-p结中的深能级缺陷,得到其缺陷能级位置在价带上0.15eV,同时给出了其俘获截面和缺陷密度,初步认为是Hg空位或与其相关的复合缺陷。根据深能级的有关参数,估算了器件的少子寿命和器件优值参数R0A。

著录项

相似文献

  • 中文文献
  • 外文文献
  • 专利
获取原文

客服邮箱:kefu@zhangqiaokeyan.com

京公网安备:11010802029741号 ICP备案号:京ICP备15016152号-6 六维联合信息科技 (北京) 有限公司©版权所有
  • 客服微信

  • 服务号