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高次插值的龙格现象的测试

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摘要

介绍高次插值中龙格现象的产生,并就牛顿插值,利用计算机程序来测试出现龙格现象,给出了相应的算法实现.

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来源
《湖南科技学院学报》|2005年第11期|206-208|共3页
作者
朱琪;
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作者单位

湖南科技学院,信息与计算科学系,湖南,永州,425006;

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原文格式 PDF
正文语种 chi
中图分类程序设计;
关键词
牛顿插值; 测试; 程序; 龙格现象;
入库时间 2022-08-18 08:02:31

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