交叉耦合结构集成石英晶体振荡器相位噪声与稳定性研究

摘要

通过对相位噪声进行频域分析,构建Lesson噪声优化模型,优化电路参数;并分析预抑制电路的小信号模型,优化其元器件参数,研究带RC滤波器的CMOS交叉耦合结构振荡器的相位噪声和稳定性.基于NUVOTON 0.35 μm工艺,采用Cadence完成电路设计、优化与仿真,版图设计与后仿真,并最终完成流片、测试.结果表明:在电源电压为3.3V时,该振荡器的输出信号频率为20 MHz,相位噪声分别为一135 dBc/Hz@1kHz,-156.4 dBc/Hz@10 kHz,-169.2 dBc/Hz@1MHz.当电源电压在±10％范围变化时,频率波动小于81×10-6;在工作温度-25℃至85℃范围内,频率波动小于71×10-6.