分离子函数法与求逻辑电路单故障全测试集

摘要

本文提出一种方法即分离子函数法和有关定理及推理,並用布尔差分的理论加以证明。用提出的定理,可以求出组合逻辑电路的单故障全测试集,其结果和布尔差分法与SPOOF法相同。但本文与文[4]提出的方法有两点优于布尔差分法和SPOOF法。 （1）笔算时,运算工作量约省50％左右方法简单,易掌握。 （2）有独到之处是可以编成程序供CAT（计算机辅助测试）之用。