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Au纳米耦合结构表面等离激元的EELS分析

             

摘要

应用透射电子显微镜中电子能量损失谱仪(TEM-EELS),对电子束激发的单晶Au纳米线耦合结构及单晶/多晶纳米薄膜的表面等离激元(SPs)特征进行分析.结果表明:直径约为10nm的两单晶Au纳米线平行耦合时,单根纳米线和耦合结构中均存在位于2.4eV的SPs共振,耦合结构中SPs的纵模数增加;单晶及多晶Au纳米薄膜在1.4eV附近存在SPs模式,相较于单晶薄膜,多晶Au纳米薄膜的SPs共振峰位出现明显红移.

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