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俞金玲; 姜伟; 李书平; 刘达艺; 康俊勇;
福建省半导体材料及应用重点实验室厦门大学物理系;
福建厦门;
椭圆偏振光谱; GaN; 薄膜; 光学常数; 色散模型;
机译:光谱椭圆偏振光谱研究快速重离子GeO_x薄膜的光学常数和厚度的可调谐性
机译:椭圆偏振光谱法研究各向异性层状结构Tl_2GaInS_4晶体的光学常数和带间跃迁
机译:金属有机化学气相沉积法制备Bi_4Ti_3Oi_2:xNa薄膜的光学常数的椭圆偏振光谱研究
机译:与分离椭圆偏振法和表面等离子体激元光谱相比,在表面研究中用椭圆偏振法进行表面等离子体激元激发的可能性
机译:II-VI半导体材料和太阳能电池的椭圆偏振光谱研究。
机译:光谱-椭圆偏振光谱法研究受体-伴侣相互作用
机译:椭圆偏振光谱法比较包装聚合物的近红外和中红外光学常数
机译:5-25微米光谱区光学常数的研究
机译:结合使用振荡装置和椭圆偏振法来确定不相关的有效厚度和沉积在工作电极上或从工作电极上蚀刻的材料的光学常数,这些材料最好包含非法向取向的纳米纤维
机译:通过TERAHERTZ时域光谱进行标准偏差的光学常数测量装置
机译:光谱椭偏仪通过将偏振光照射到物体上来精确测量基材的薄膜或光学常数的厚度
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