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Ni-P底层对化学镀Co-P薄膜性能的影响

         

摘要

采用化学镀工艺制备了Co-P磁记录薄膜,研究了非晶无磁Ni-P底层对Co-P薄膜的生长及性能的影响.研究结果表明:非晶无磁Ni-P底层对Co-P薄膜的晶体结构及取向无明显影响,镀态的Co-P薄膜均为密排六方结构, (100)、(002)、(101)的择优取向无明显变化;但非晶无磁的Ni-P底层可以提高薄膜的均匀性和一致性,表面无明显缺陷;细化晶粒,平均晶粒尺寸为100~150nm;提高Co-P薄膜的磁性能,矫顽力可达4.54×104A/m.当记录信号脉冲时,与铝基体上直接施镀相比,在Ni-P底层上的Co-P磁记录薄膜输出信号幅值均匀稳定,信噪比良好.

著录项

  • 来源
    《功能材料》 |2008年第1期|51-53|共3页
  • 作者单位

    北京科技大学,材料科学与工程学院,北京,100083;

    北京科技大学,材料科学与工程学院,北京,100083;

    北京科技大学,材料科学与工程学院,北京,100083;

    北京科技大学,材料科学与工程学院,北京,100083;

    北京科技大学,材料科学与工程学院,北京,100083;

    北京科技大学,材料科学与工程学院,北京,100083;

  • 原文格式 PDF
  • 正文语种 chi
  • 中图分类 薄膜的性质;
  • 关键词

    化学镀; Co-P; 磁记录薄膜; Ni-P;

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