复杂型热性惊厥患儿脑电图尖棘波与癫痫相关性的研究

摘要

目的：探讨复杂型热性惊厥患儿脑电图（EEG）尖棘波与癫痫的相关性。方法：所有入选病例于惊厥发作后10～14d检查EEG；使用美国尼高力公司1518K型18通道EEG仪，按国际10-20系统电极放置法。结果：热性惊厥患儿EEG正常率为64．1％；异常率为35．9％，异常比例较低，但32例异常者中有23例有痫样发作。故临床中枕区和额区痴样放电是日后癫痫发生的危险因素。结论：临床中枕区和额区阵发性痫样放电的热性惊厥患儿日后更容易发生癫痫。