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VLSI冗余单元最优分配的遗传算法求解

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摘要

随着VLSI芯片面积的增加和电路复杂性的增强,芯片的成品率受制造缺陷影响的概率逐渐增加.为了解决这一问题,人们将容错技术结合入集成电路设计中.要使一个系统具有较强的容错能力,必须给系统提供一定量冗余单元.本文利用遗传算法有效地解决了使系统成品率达到最大的冗余单元最优分配问题.

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来源
《电子与信息学报》 |2001年第1期|96-99|共4页
作者
赵天绪; 郝跃; 周水生;
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作者单位

西安电子科技大学微电子所,西安,710071;

西安电子科技大学微电子所,西安,710071;

西安电子科技大学微电子所,西安,710071;

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原文格式 PDF
正文语种 chi
中图分类大规模集成电路、超大规模集成电路;数字信号处理;
关键词
遗传算法; 成品率; 备用单元; 容错能力;

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