数字系统单加权集下随机测试生成方法

摘要

为在不引入额外的硬件开销下以较短的测试序列获得较高的故障覆盖率 ,提出一种基于细胞自动机 (CA )的数字集成电路加权随机测试方法 .该方法利用可测性测度建立反映故障侦查代价的可测性代价函数 ,对此函数的寻优得到被测电路主输入处的权值 ,再由一维混合型 CA实现了该权值下的随机序列 .对标准电路的实验验证了该方法是一有效的、且便于 BIST应用的测试生成算法 .