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裴颂伟; 李华伟; 李晓维;
中国科学院计算机系统结构重点实验室,北京,100190;
中国科学院计算技术研究所,北京,100190;
中国科学院研究生院,北京,100049;
时延测试; 跳变时延故障; 增强型扫描; 故障覆盖率; 触发器选择;
机译:使用DTESFF进行局部增强扫描链的触发器选择,以实现高过渡延迟故障覆盖率
机译:基于ZBDD的非数值路径时延故障覆盖率计算
机译:时延和时延变化多播路由的定向核心选择方法和动态树重组
机译:触发器选择可通过部分增强型扫描最大程度地提高TDF覆盖率
机译:测试点,部分扫描和全扫描触发器插入的信息理论和频谱方法,以提高集成电路的可测试性
机译:受到外部干扰的网络控制系统的传感器故障和时延容忍控制
机译:基于ZBDD的非数字路径时延故障覆盖率计算
机译:spERT I熔丝触发测试第一部分发展触发器的反应器测试第二部分发展触发器的讨论和分析
机译:通过使用增强型扫描触发器在延迟故障测试中改善过渡延迟故障覆盖率的系统和方法
机译:利用包括分区和扫描触发器的测试逻辑来增强时序延迟故障覆盖率的方法和装置
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