用于部分增强型扫描时延测试的触发器选择方法及系统

摘要

本发明公开了用于部分增强型扫描时延测试的触发器选择方法及系统。该方法包括下列步骤：对电路中利用增强型扫描测试方法得到可测的跳变时延故障集合进行故障精简，得到精简后的故障全集；利用精简后的故障集合，计算电路中所有通用扫描触发器的0(1)激活相关度；利用精简后的故障集合，计算电路中所有通用扫描触发器的0(1)敏化相关度；计算电路中通用扫描触发器的0(1)可控度；根据通用扫描触发器的0(1)激活相关度、0(1)敏化相关度和0(1)可控度，计算电路中每个通用扫描触发器的选择函数值，从而在限定的增强型扫描触发器数量下，依次把相同数量的具有最大选择函数值的通用扫描触发器替换成增强型扫描触发器。