首页> 中文期刊> 《质谱学报》 >激光溅射离子源垂直引入式飞行时间质谱仪的研制

激光溅射离子源垂直引入式飞行时间质谱仪的研制

         

摘要

介绍了两台自行研制的激光溅射离子源垂直引入式飞行时间质谱仪(LAI-oa-TOFMS),相比于其他固体样品直接分析法,该仪器具有样品预处理简单、样品更换速度快(数分钟)、可进行微区分析、谱图干扰峰少和绝对灵敏度高(10-15 g级)等众多优点.两台质谱仪的最佳质量分辨率分别达到7 000和4 000(FWHM).重点对比分析了不同样品的电离方式和离子传输系统对仪器性能的影响.

著录项

  • 来源
    《质谱学报》 |2010年第5期|264-269|共6页
  • 作者

    何坚; 余泉; 杭纬; 黄本立;

  • 作者单位

    厦门大学物理与机电学院,分析仪器实验室,福建,厦门,361005;

    厦门大学化学化工学院,现代分析科学教育部重点实验室,福建,厦门,361005;

    厦门大学化学化工学院,现代分析科学教育部重点实验室,福建,厦门,361005;

    厦门大学化学化工学院,现代分析科学教育部重点实验室,福建,厦门,361005;

  • 原文格式 PDF
  • 正文语种 chi
  • 中图分类 质谱分析;
  • 关键词

    固体样品直接分析; 激光溅射电离; 飞行时间质谱;

相似文献

  • 中文文献
  • 外文文献
  • 专利
获取原文

客服邮箱:kefu@zhangqiaokeyan.com

京公网安备:11010802029741号 ICP备案号:京ICP备15016152号-6 六维联合信息科技 (北京) 有限公司©版权所有
  • 客服微信

  • 服务号