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面向中文专利文献的有标记并列结构的统计分析

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摘要

该文在中文专利语料的基础上,统计分析了中文专利文献中有标记并列结构的内部特征和外部特征.内部特征主要考察了中文专利文献中有标记并列结构的并列标记、并列结构内部分析和词性分布等.外部特征主要统计了可能的边界特征词,并分析了有标记并列结构在中文专利文献中出现的外部环境.

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来源
《中文信息学报》 |2013年第5期|43-50,59|共9页
作者
石翠; 周俏丽; 张桂平;
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作者单位

沈阳航空航天大学知识工程研究中心,辽宁沈阳110136;

辽宁行政学院信息技术系,辽宁沈阳110161;

沈阳航空航天大学知识工程研究中心,辽宁沈阳110136;

沈阳航空航天大学知识工程研究中心,辽宁沈阳110136;

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原文格式 PDF
正文语种 chi
中图分类信息处理（信息加工）;
关键词
有标记并列结构; 中文专利文献; 内部特征; 外部特征;

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