纳米分辨STEM-EELS研究单晶MgO辐照缺陷振动谱

摘要

本文通过离子辐照技术在单晶MgO中引入辐照缺陷,利用X射线衍射(XRD)结合透射电子显微镜(TEM)表征辐照引入的缺陷,使用6 meV能量分辨率和纳米空间分辨的扫描透射电子显微镜电子能量损失谱技术(STEM-EELS)测量辐照前后单晶MgO声子谱.论文研究离子辐照引入点缺陷对单晶MgO声子结构的影响,结果表明辐照点缺陷会引起单晶MgO声子能量的改变.本论文对于发展离子辐照缺陷调控材料声子结构这一技术路线具有重要启发意义.