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田家万; 劳技军; 虞晓江; 李戈扬; 宁兆元;
上海交通大学金属基复全材料国家重点实验室,上海,200030;
苏州大学薄膜材料重点实验室,江苏,苏州,215006;
纳米多层膜; AIN; 外延生长; HRTEM; 高分辨电子显微镜; 立方相; 氮化铝;
机译:电镜观察等离子体辅助分子束外延生长Al_xGa_(1-x)N / GaN异质结构中AIN中间层的纯度
机译:脉冲激光沉积在蓝宝石(0001)上异质外延生长的立方AIN薄膜的晶体结构评估
机译:立方金刚石(001)上的六角AIN(0001)异质外延生长
机译:光学优化的AIN / SiO_2和AIN / Ag纳米多层膜的纳米力学行为
机译:六方氮化硼/石墨烯异质结构,六方氮化硼层和立方氮化硼纳米点的分子束外延生长
机译:低温还原气氛下PLD在立方织构的Cu复合衬底上外延生长SrTiO3薄膜
机译:HRTEM对ZnO微棱镜PD颗粒(1-6nm)外延生长的研究
机译:HRTEm对Ti-pd-Cr(β)(sub 2)合金中调制结构的观察
机译:形成外延生长的立方碳化硅层的叠层的方法,以及形成衬底附着的外延生长的立方碳化硅层的叠层的方法
机译:用于金属和非金属物体的接近检测器-带有立方体的立方体,传感器和电路连接到杆中,电缆可在不改变立方体杆形状的情况下进行正面和侧面观察
机译:通过金属有机化学气相沉积异质外延生长高质量N面GaN,InN和AIN及其合金的方法
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