论偏最小二乘校正方法的稳定性

摘要

研究了多元校正方法－－偏最小二乘（ＰＬＳ）在波长色散Ｘ射线荧光光谱分析中的应用，并将该法与传统的经验系数法（ＥＣＭ）进行了比较，其考察对象为一组转炉渣文献数据，一组不锈钢样和一组锌精矿样。结果表明，ＰＬＳ比ＥＣＭ准确、稳定、经分析探讨，认为其主要原因是ＰＬＳ能滤除噪音，文中建立了描述浓度和强度本质的关系式。