片式电阻硫化机理及失效分析

摘要

cqvip:针对片式电阻阻值异常问题,采用能谱分析和扫描电镜等手段进行分析,确认是由于片式电阻焊盘处出现硫化现象导致阻值异常,进一步研究了片式电阻硫化机理,并提出了预防电阻硫化的措施。