添加剂对氧化锌电阻片电学性能影响的研究进展

马书蕊; 施利毅; 钟庆东; 冯欣; 王少飞

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添加剂对氧化锌电阻片电学性能影响的研究进展

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摘要

综述了近年来添加剂对氧化锌电阻片电学性能影响方面的研究进展,分析了不同添加剂对氧化锌电阻片电学性能的影响机理.通过比较发现,纳米添加剂可以降低高温烧成时的烧成温度,进而抑制晶粒长大,改善烧成均匀性,氧化锌晶粒平均尺寸可控制在1μm左右,泄漏电流2μA,通流容量可达250J/cm3.指出纳米添加剂进一步在氧化锌电阻片生产中的应用是今后研究的方向.

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来源
《电瓷避雷器》 |2005年第6期|31-37|共7页
作者
马书蕊; 施利毅; 钟庆东; 冯欣; 王少飞;
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作者单位

上海大学理学院,上海,2004444;

上海大学理学院,上海,2004444;

上海大学纳米科学与技术研究中心,上海,200444;

上海电力学院环境工程系,上海,200090;

上海大学材料科学与工程学院,上海,200072;

上海大学理学院,上海,2004444;

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原文格式 PDF
正文语种 chi
中图分类过电压保护装置;
关键词
纳米添加剂; 氧化锌电阻片; 电位梯度; 通流容量; 非线形系数;

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