外延应力调控(111)取向La_(0.66)Sr_(0.33)MnO_(3)外延薄膜的物理性质

摘要

系统地研究了用脉冲激光沉积法(PLD)在(111)取向SrTiO_(3)单晶衬底上外延生长La_(0.66)Sr_(0.33)MnO_(3)薄膜的电学和磁阻性能。利用综合物性测量系统(PPMS)测量研究了薄膜导电性和相应物性随薄膜厚度的变化规律。磁化和电阻作为温度函数的测量结果表明,从铁磁状态到顺磁状态的转变温度与薄膜厚度直接相关。电阻率(ρ(T))的温度依赖性已经用理论公式进行了拟合。在3 T的外加磁场下,在200 K下测量了10 nm厚膜的34.5%的磁电阻。