密码芯片安全扫描结构及安全扫描方法研究

摘要

随着物联网、云计算等技术的发展,网络信息安全更加受到关注.密码芯片是信息安全的基础,不能保障密码芯片的自身密钥安全,根本无法保障信息安全.在各类数字芯片中,扫描测试结构应用广泛.扫描测试结构是可测性设计结构,测试代价较低,测试覆盖率充足,对电子系统的可靠性有重要的价值.扫描测试结构虽然增加了密码芯片的可测性,但出现使用不当,可能作为旁路攻击路径,泄露密码芯片的密钥信息.文章对此提出前馈异或安全扫描结构,扫描结构中引入异或安全扫描寄存器,变换测试图形的输入/输出,加密测试图形的硬件,分析其测试图形生成算法.