国产SRAM应用时序的研究分析

摘要

文章以国产512K×32bit的SRAM为研究对象,通过构建测试平台和设计验证流程对国产SRAM的应用时序进行验证,并对验证得到的结果进行深层次分析,指出国产SRAM目前在应用时序上存在的隐患问题。此分析结果对于相关集成电路制造行业或者应用国产SRAM的各科研单位,都具有较好的参考价值和指导意义。