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国产宇航用SRAM型FPGA同步开关噪声的应用验证

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摘要

同步开关噪声对具有上百个输入/输出端口的高性能FPGA系统具有很大的影响,是深亚微米设计所必须考虑的主要问题之一.本文在总结FPGA同步开关噪声相关研究的基础上,分析了FPGA器件的同步开关噪声机理,并对国产30万门SRAM型FPGA器件的同步开关噪声展开了验证.

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来源
《中国宇航学会·中国空间法学会2012年学术年会》|2012年|461-464|共4页
会议地点北京
作者
陈少磊; 王文炎; 江理东;
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作者单位

中国宇航学会;

中国空间法学会;

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会议组织
正文语种
原文格式 PDF
中图分类 V442.4;
关键词
航天器件; 现场可编程门列阵; 同步开关噪声; 形成机理;

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