C207型联醇催化剂中毒原因探讨

摘要

通过对从工业合成塔内不同轴向位置取向使用后的Ｃ２０７型铜基甲醇化剂的俄歇电子能谱，Ｘ－射线衍射和孔结构参数测定和研究，表明铜基联醇催化剂发生硫中毒、结构和羰基铁中毒。发现催化剂中毒失活性孔结构参数和晶格结构发生较大变化。