新型多焦点结构光显微成像技术

摘要

多焦点结构光显微镜(Multifocal structured illumination microscopy,MSIM)采用多点扫描和探测技术,可以快速获取厚样品的三维结构信息.尽管MSIM技术具有一定的超分辨和层析成像能力,但是现有MSIM技术的深层离焦荧光抑制效果不够理想,在成像结果中容易产生较强的背景信号.为此,本文提出了一种改进的MSIM方法,可以在保证横向分辨率的前提下显著提高层析成像能力,并利用仿真结果验证了该方法的有效性.