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基于CCD成像方法的激光束近场光强分布测试技术

         

摘要

激光束近场光强分布是影响激光束特性的重要参数之一,为了使目前激光束近场光强分布的评价更加合理和科学化,对CCD直接测量法和漫反射屏测量法两种测量方法进行了研究,并分析了材料不同的漫反射屏对测量结果的影响.研究结果表明,漫反射屏材料的不同对测量结果有较大影响,并且漫反射屏测量法存在的散斑对测量结果影响也较大.两种测量方法比较表明CCD直接测量法测得结果更加客观,与真实值更加接近.

著录项

  • 来源
    《强激光与粒子束》 |2014年第9期|16-20|共5页
  • 作者单位

    中国工程物理研究院高能激光科学与技术重点实验室,四川绵阳621900;

    中国工程物理研究院应用电子学研究所,四川绵阳621900;

    中国工程物理研究院高能激光科学与技术重点实验室,四川绵阳621900;

    中国工程物理研究院应用电子学研究所,四川绵阳621900;

    中国工程物理研究院高能激光科学与技术重点实验室,四川绵阳621900;

    中国工程物理研究院应用电子学研究所,四川绵阳621900;

    中国工程物理研究院高能激光科学与技术重点实验室,四川绵阳621900;

    中国工程物理研究院应用电子学研究所,四川绵阳621900;

  • 原文格式 PDF
  • 正文语种 chi
  • 中图分类 实验应力分析;
  • 关键词

    近场; 光强分布; 测试; 漫反射; 散斑;

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