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多点分段单步校正法在接触式图像传感器扫描仪上的实现

         

摘要

提出了一种接触式图像传感器(CIS)扫描仪非均匀校正的新方法,能够快速高效地完成对CIS扫描仪彩色图像的非均匀校正,消除了CIS的颜色差异.采用多点分段单步法进行标定,采用现场可编程门阵列实现校正,并最终得到颜色均匀的彩色图像.对于分辨率高达1200 dpi的CIS扫描仪,采集一次样板纸完成全部颜色空间的分段标定,图像传输的同时完成校正,校正过程仅耗时0.125μs.实际应用效果显示校正后R,G,B三个通道的像素误差控制在5个像素以内,相比校正前图像均匀性提升10倍左右,比传统两点法提升3倍左右,且明显改善图像颜色突变、暗淡以及随机条纹等问题.

著录项

  • 来源
    《强激光与粒子束》 |2014年第3期|44-49|共6页
  • 作者单位

    电子科技大学现代光电测控及仪器实验室(摩米实验室),成都610054;

    电子科技大学现代光电测控及仪器实验室(摩米实验室),成都610054;

    电子科技大学中山学院电子信息学院,广东中山528400;

    电子科技大学现代光电测控及仪器实验室(摩米实验室),成都610054;

    电子科技大学现代光电测控及仪器实验室(摩米实验室),成都610054;

    成都术有科技有限公司,成都610054;

    电子科技大学现代光电测控及仪器实验室(摩米实验室),成都610054;

    成都术有科技有限公司,成都610054;

    电子科技大学现代光电测控及仪器实验室(摩米实验室),成都610054;

    成都术有科技有限公司,成都610054;

    电子科技大学现代光电测控及仪器实验室(摩米实验室),成都610054;

  • 原文格式 PDF
  • 正文语种 chi
  • 中图分类 TP212.14;
  • 关键词

    接触式图像传感器扫描仪; 实时校正; 非均匀; 现场可编程门阵列;

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