首页> 中文期刊> 《河南科学》 >薄膜磁阻效应计算机控制自动测试方法的研究

薄膜磁阻效应计算机控制自动测试方法的研究

         

摘要

The ultralow frequency scanning field power supply is obtained by chip microprocessors 8031 simulating triangular wave output. The thin film magnetic-resistance effect is measured automatically by four probes and six probes measure methods.%采用单片机8031来模拟三角波输出而产生超低频扫场电源,用四探针、六探针测量法,实现对薄膜磁阻效应的自动测试。

著录项

相似文献

  • 中文文献
  • 外文文献
  • 专利
获取原文

客服邮箱:kefu@zhangqiaokeyan.com

京公网安备:11010802029741号 ICP备案号:京ICP备15016152号-6 六维联合信息科技 (北京) 有限公司©版权所有
  • 客服微信

  • 服务号