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潘继环; 苏安; 蒙成举;
河池学院物理与机电工程学院 广西宜州546300;
光子晶体; 光学厚度; 缺陷模;
机译:静压压力的同时效应和入射角对GaAs / Ga0.7Al0.3起的一维光子晶体缺陷模式的缺陷模式
机译:耗散对一维光子晶体中缺陷模式的影响
机译:静压压力和温度对一维光子晶体带结构中缺陷模式的影响
机译:对称还原一维光子晶体纳米束波导中的工程缺陷模式
机译:波在分散介质和一维光子晶体中的传播。
机译:2014-2017年期间泛长江三角洲气溶胶光学厚度的时空变化及其影响因素
机译:具有扭曲向列缺陷层的一维光子晶体中的电压诱导的缺陷模式耦合
机译:周期介质波导中的导引和缺陷模
机译:记录了影响确定程序的影响确定方法,影响确定设备,非暂态存储介质,影响数据提取过程中的影响数据提取方法,影响数据提取设备和非暂态存储介质
机译:缺陷模式搜索,模式搜索以及压缩,恢复和引用数据,半导体存储器测试仪,缺陷模式搜索系统和生产监控器的方法和装置
机译:优先级排名设备和用于检测对象缺陷模式的方法和存储介质
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