计算机控制的高分辨率光生电流瞬态谱

摘要

计算机模拟表明,对于常规的光生电流瞬态谱,如果样品中两个深能级缺陷的信号因位置接近而互相迭加,则在确定这些缺陷的参数时会由于率窗的选取不当而引进很大的误差.为此本文提出了用计算机进行数据采集及处理的高分辨率光生电流瞬态谱HR-PICTS(High Resolution Photo-Incluced Current Transient Spectroscopy).它能分辨出原已不能分辨的信号峰,并使得到的深能级缺陷参数更为准确.此法设备简单、操作方便,只需一次温度扫描就可获得深能级缺陷的各种参数.对半绝缘GaAs的实验结果表明,HR-PICTS为研究半绝缘材料中的深能级缺陷提供了更有力的工具.