Nottingham Trent University (United Kingdom);
机译:氮掺杂直拉生长硅衬底上外延层的晶体缺陷(Ⅱ)“通过控制晶体生长条件和碳共掺杂抑制外延层中的晶体缺陷”
机译:电容瞬态光谱法检测绝缘体上硅中缺陷的方法
机译:用于半导体深层瞬态电容测量的计算机控制系统
机译:电容电压瞬态技术(CVTT)的三维深度缺陷分布的确定
机译:硅上深层的瞬态电容光谱(瞬间,DLTS)
机译:集成低电容二极管的掺砷高电阻率硅外延层
机译:用于集成低电容二极管的砷掺杂高电阻率硅外延层