SM1021C型二极管自动测试仪VR测试重复性差的故障分析

摘要

本文对进口SM1021C型自动测试仪VR测试重复性差的故障进行了分析，并提出改进措施，实施后故障消失。对测试非线性半导体器件时，出现类似VR则试重复性差的故障进行了总结，并提出解决办法。