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可编程器件测试方法及失效机理探讨

         

摘要

cqvip:本文对存储器及其它可编程器件的测试方法及失效机理进行了介绍,同时对这类器件在测试筛选及使用中出现的不合格模式从筛选、失效分析方面进行了讨论。引言:可编程器件主要包括存储器、PAL、GAL、FPGA等类型的器件。本文主要以存储器为例进行讨论。存储器包括RAM、EPROM、EEPROM、FLASH等。随着集成电路产业的不断发展,存储器从结构和容量都有很大程度的发展和提高。

著录项

  • 来源
    《电子世界》 |2018年第22期|69-70|共2页
  • 作者

    韦东; 蒋冬;

  • 作者单位

    西安北方光电科技防务有限公司;

    西安北方光电科技防务有限公司;

  • 原文格式 PDF
  • 正文语种 chi
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