退出
我的积分:
中文文献批量获取
外文文献批量获取
韦东; 蒋冬;
西安北方光电科技防务有限公司;
机译:大量循环载荷下的疲劳:测试方法和失效机理
机译:移动设备cpu上usb接口电路的失效机理及可靠性测试方法
机译:探讨锂离子电池纳米LiFePO_4的失效机理
机译:核电应用的光缆材料的寿命预测:失效机理,寿命终止标准和测试方法的评估
机译:系统级ESD失效机理,分析和测试方法。
机译:基于过氧化锌的可编程金属化电池的开关失效机理
机译:透射电子显微镜中的原位时间依赖性介电击穿:有可能理解微电子器件中的失效机理
机译:温度对微电子器件失效机理的影响。阶段2。
机译:能够检测缺陷尺寸的半导体器件的测试结构以及使用相同方法检测金属失效或缺陷尺寸的测试方法
机译:半导体器件的失效细胞测试方法
机译:半导体器件的失效单元测试方法
抱歉,该期刊暂不可订阅,敬请期待!
目前支持订阅全部北京大学中文核心(2020)期刊目录。