FPGA多程序动态老炼系统设计

摘要

老炼试验可以加速FPGA老化,使FPGA快速进入失效率较低且稳定的偶然失效期,是剔除存在潜在缺陷FPGA电路的重要方法。但是随着FPGA的规模越来越大,传统的单段程序动态老炼无法实现FPGA大部分资源的逻辑翻转,电路潜在缺陷部位无法及时暴露,可能导致缺陷电路异常流出。针对单段程序动态老炼的局限性,设计了一种可循环写入多段老炼程序的多程序动态老炼硬件系统,同时针对该老炼系统开发了FPGA老炼程序,可显著提高FPGA的老炼覆盖率。