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JTAG界面——一个供IC用的标准测试界面

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摘要

针对大规模集成电路中利用传统的探针测试方法浪费时间,不能检测IC引脚内部信号的原因.本文系统地论述了JTAG如何来解决上述问题的的方法和手段,以及JTAG的指令.

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来源
《电子测试》|2007年第3期|81-86|共6页
作者
吴腾奇;
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作者单位

华南师大物理系,广州,510600;

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原文格式 PDF
正文语种 CHI
中图分类测试技术及设备;
关键词
JTAG; 寄存器; 指令;

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