首页> 中文期刊> 《电子测试》 >电子电路制作过程人为故障的分析与对策

电子电路制作过程人为故障的分析与对策

         

摘要

本文从电子电路制作过程人为故障的原因入手,着重分析了电子电路制作过程对人为制作行为的要求,并探索了电子电路制作过程人为故障的对策。

著录项

相似文献

  • 中文文献
  • 外文文献
  • 专利
获取原文

客服邮箱:kefu@zhangqiaokeyan.com

京公网安备:11010802029741号 ICP备案号:京ICP备15016152号-6 六维联合信息科技 (北京) 有限公司©版权所有
  • 客服微信

  • 服务号