超大规模集成电路中基于OCV的时序收敛方法

摘要

当芯片设计进入深亚微米,片上工艺偏差(OCV)造成的时序不确定性,成为超大规模集成电路时序收敛中的关键问题,单纯使用传统时序分析方法,已不能完全达到时序收敛的要求.文中首先介绍了静态时序分析方法,阐述了深亚微米下OCV分析对时序收敛的重要性,并提出对OCV问题建模和分析的方法.最后通过一个具体的设计实例,运用基于OCV的时序分析方法达到时序收敛.