适用于直流和射频器件表征和建模的平台软件

摘要

器件建模软件平台IC—CAP 2011．04将IC—CAP Wafer Professional自动测量解决方案与IC—CAP CMOS模型提取套件相结合，能够显著改善半导体器件的建模流程。先进的CMOS器件建模需要执行大量测量，以分析制程趋势，确定提取典型和边际器件模型所需的数据。