首页> 中文期刊> 《电子产品可靠性与环境试验》 >山东大学微电子器件及可靠性研究取得突破

山东大学微电子器件及可靠性研究取得突破

         

摘要

据《光明日报》报道,山东大学以苗庆海教授为学术带头人的科研团队在“微电子器件及其可靠性”研究方面取得突破性的进展。该成果的选题来源于闲扰微电子学领域的一个国际性科技难题.即用电学方法测量微电子器件芯片温度分布不均匀性的难题。对于被密封在半导体内看不见、摸不着的芯片,课题组以发现的“小电流过趋热效应”为突破口,应用MQH算法.建立了基于电学测量方法的“微电子器件热谱分析方法”,较圆满地解决了这一国际性难题。

著录项

相似文献

  • 中文文献
  • 外文文献
  • 专利
获取原文

客服邮箱:kefu@zhangqiaokeyan.com

京公网安备:11010802029741号 ICP备案号:京ICP备15016152号-6 六维联合信息科技 (北京) 有限公司©版权所有
  • 客服微信

  • 服务号