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原子力显微镜; SiO2薄膜; MOS器件; 击穿点; 照相;
机译:使用导电原子力显微镜在重复倾斜电压应力下击穿超薄SiO2薄膜中的击穿点
机译:纳米级电荷转移和扩散在MOS2 / SiO2接口下由原子力显微镜显微镜:接触注射与摩擦测定
机译:导电原子力显微镜在创新型MOS器件的纳米级击穿动力学
机译:SIO {SUB} 2薄膜和带有导电原子力显微镜的薄膜和MOS装置的成像击穿点
机译:应用商业原子力显微镜扫描近场光学显微镜技术并研究细胞信号传导。
机译:功能和功能失调的肺表面活性剂薄膜的原子力显微镜研究II:白蛋白抑制的肺表面活性剂薄膜和SP-A的作用
机译:原子力显微镜测量吸附在siO2表面上的dotriacontane薄膜的形貌和摩擦力
机译:激光调节和激光损伤的HfO2 / siO2介电镜涂层的原位原子力显微镜。
机译:原子力显微镜系统,用于映射位于半导体器件中的一个或多个地下结构的方法,或用于在半导体器件中监测光刻参数以及使用这种原子力显微镜系统
机译:原子力显微镜,原子力显微镜及原子力显微镜的控制方法
机译:通用悬臂梁测量液体中原子力显微镜的方法和原子力显微镜中测量原子力显微镜的方法
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