• 主题
高级搜索  >
历史搜索 清空历史
首页> 中文期刊> 《电子产品可靠性与环境试验》 >VLSI老化筛选试验技术的挑战

VLSI老化筛选试验技术的挑战

         
页面导航
  • 摘要
  • 著录项
  • 相似文献
  • 相关主题

摘要

通过对集成电路老化试验技术的研究,指出了VLSI老化筛选试验技术仍然是集成电路产品质量和可靠性保障的重要手段.但是随着集成电路技术的飞速发展,老化技术面临许多有待解决的技术问题,从VLSI产品质量和可靠性保障的角度出发,急需制定可操作的VLSI老化试验技术规范.

著录项

  • 来源
    《电子产品可靠性与环境试验》 |2004年第5期|21-25|共5页
  • 作者

    温平平; 焦慧芳; 贾新章; 罗雯; 王群勇; 魏建中;

  • 作者单位

    西安电子科技大学微电子研究所,陕西,西安,710071;

    西安电子科技大学微电子研究所,陕西,西安,710071;

    信息产业部电子第五研究所,广东,广州,510610;

    西安电子科技大学微电子研究所,陕西,西安,710071;

    信息产业部电子第五研究所,广东,广州,510610;

    信息产业部电子第五研究所,广东,广州,510610;

    信息产业部电子第五研究所,广东,广州,510610;

  • 原文格式 PDF
  • 正文语种 chi
  • 中图分类 TN47.06;
  • 关键词

    老化; 筛选; 超大规模集成电路;

相似文献

  • 中文文献
  • 外文文献
  • 专利
获取原文

客服邮箱：kefu@zhangqiaokeyan.com

京公网安备：11010802029741号 ICP备案号：京ICP备15016152号-6 六维联合信息科技 (北京) 有限公司©版权所有

  • 客服微信

  • 服务号