首页> 中文期刊> 《电子产品可靠性与环境试验》 >基于性能退化的功能电路软故障可靠性分析

基于性能退化的功能电路软故障可靠性分析

         

摘要

通过对电子功能电路退化量分布的分析,提出了一种基于性能退化的功能电路软故障可靠性分析方法,并以某型雷达放大电路功能电路为例进行了试验,根据静态工作点的变化所引发的软故障,进行了电路的软故障可靠性分析.

著录项

相似文献

  • 中文文献
  • 外文文献
  • 专利
获取原文

客服邮箱:kefu@zhangqiaokeyan.com

京公网安备:11010802029741号 ICP备案号:京ICP备15016152号-6 六维联合信息科技 (北京) 有限公司©版权所有
  • 客服微信

  • 服务号