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韩春辉; 蔡金燕; 单成进;
军械工程学院光学与电子工程系,河北,石家庄,050003;
中国人民解放军第73907部队,福建,厦门,361100;
软故障; 性能退化; 可靠性;
机译:基于LMD-GFD和KPCA的非线性模拟电路软故障的新颖特征提取方法
机译:基于遗传算法的模拟滤波电路多重软故障诊断
机译:基于灵敏度分析的模拟电路软故障诊断,最小故障数规则
机译:基于性能退化数据和贝叶斯方法的实时可靠性分析
机译:关于静电放电引起的软故障的集成电路特征。
机译:基于多元概化理论的中文版癌症治疗功能评估-白血病(FACT-Leu)量表的可靠性分析
机译:非线性模拟电路的故障诊断。第二卷。一种软故障分析的多频方法。
机译:基于阶段划分和节点活动的CMOS VLSI电路可靠性分析的方法和系统
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机译:可靠性分析装置,可靠性分析方法和可靠性分析程序
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