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张新焕; 刘军霞;
中国电子科技集团公司第五十五研究所,江苏南京210016;
失效机制; 质量鉴定; 辐射效应;
机译:III-V型化合物半导体器件中的可靠性问题:光学器件和基于GaAs的HBT
机译:基于锑化物的III-V族化合物半导体和器件的研究进展
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机译:外延III-V族化合物半导体中的重大问题及其对器件可靠性的影响
机译:化合物半导体微波器件的热特性,用于可靠性分析。
机译:经由可可胶路线的高性能且可扩展的金属硫族化物半导体和器件
机译:III-V族化合物半导体纳米级异质结构器件中的辐射物理和可靠性问题
机译:制备III族氮化物基化合物半导体的方法,包括III族氮化物基化合物半导体的晶片和III族氮化物基化合物半导体器件
机译:III族氮化物化合物半导体发光器件,III族氮化物化合物半导体发光器件的制造方法和灯
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