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电子元件生产中寿命试验的Bayes方法

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来源
《数字技术与应用》 |1992年第6期|48-51|共4页
作者
林青;
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原文格式 PDF
正文语种 chi
中图分类测试、调整及设备;
关键词
电子元件; 制造; 寿命试验;

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