首页> 中文期刊> 《电子设计技术》 >基于PSL语言的数字集成电路功能覆盖率测试

基于PSL语言的数字集成电路功能覆盖率测试

         

摘要

设计复杂度的增加、IP重用等当前复杂SoC/ASIC设计的特性要求对设计的功能进行更加充分的验证。基于PSL的功能覆盖率分析与传统的代码覆盖率分析共同构成了一个完整的衡量电路验证质量的尺度,这一全新设计方法学的使用将有效提高验证的质量和效率。

著录项

相似文献

  • 中文文献
  • 外文文献
  • 专利
获取原文

客服邮箱:kefu@zhangqiaokeyan.com

京公网安备:11010802029741号 ICP备案号:京ICP备15016152号-6 六维联合信息科技 (北京) 有限公司©版权所有
  • 客服微信

  • 服务号