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非向量测试套件检测针脚缺陷

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＜正＞安捷伦科技（Agilent）在NEPCON Shanghai 2007上推出了包括NPM测量技术在内的由非向量测试功能组成的套件——安捷伦Medalist VTEP v2.0,主要用来检测连接器电源针脚和接地针脚上的缺陷。在

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《电子设计技术》 |2007年第6期|28-28|共1页
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正文语种 chi
中图分类测试和检验;
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