关键区域分析与存储器冗余

摘要

＜正＞您的设计对随机缺陷的敏感程度如何,布局中哪个区域的修改可为总良品率提供最大的正面效果?无论采用何种工艺的设计团队（无晶圆、轻晶圆或IDM（集成器件制造商））,都应解决降低设计对于制造问题敏感度的目标。一个设计向下游走得越远,就越不太可能解决某个制造问题,除非做昂贵的重新设计。在设计仍进行中就提示解决DFM（可制造性设计）问题,可以避免出现制造逐渐