基于熵的磁瓦内表面起级缺陷检测与识别

摘要

本文使用空域统计方法对纹理缺陷进行识别。首先锐化和增强缺陷图像。其次,应用熵原理计算基于局部范围的图像熵值矩阵,使用纹理基元对图像进行卷积运算,获得卷积矩阵;阈值二值化处理。对预处理图像进行轮廓跟踪,提取相关缺陷特征。根据给定的阈值进行缺陷检测和识别。通过MATLAB仿真实验验证,该方法能够稳定高效地对磁瓦内表面起级缺陷进行检测和识别。