首页> 中文期刊> 《数码世界》 >浅谈嵌入式硬件测试平台及其硬件识别系统的设计与实现

浅谈嵌入式硬件测试平台及其硬件识别系统的设计与实现

     

摘要

伴随我国高性能的硬件嵌入技术逐渐发展,传统的嵌入式硬件测试平台已经不能够满足当前的企业所需要的研究环境,因此本文提出了更为新型的研究技术和研究方向。其中自动化的测试技术更能够完善,并且成为新一代的嵌入调试系统平台中的发展方向。本文通过提出具有硬件自动识别以及测试功能的嵌入测试平台,使得该平台可以自动化的对接嵌入式的硬件识别系统,并且对于所接入的硬件进行故障的测试。

著录项

相似文献

  • 中文文献
  • 外文文献
  • 专利
获取原文

客服邮箱:kefu@zhangqiaokeyan.com

京公网安备:11010802029741号 ICP备案号:京ICP备15016152号-6 六维联合信息科技 (北京) 有限公司©版权所有
  • 客服微信

  • 服务号