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罗江财;
重庆光电技术研究所;
形貌; 电子显微镜; 电镜; 晶面间距; 射线衍射; 异质外延材料; 晶格匹配; 半导体材料; 电工材料; 电子顺磁共振; 电子自旋共振; 半导体表面; 电学性能; 晶体生长; 表面损伤;
机译:铁电半导体TlInS2:La单晶中的光伏电流和结构缺陷活性
机译:n型四氮杂三甲苯并垂直排列的离散单晶的光谱学:了解缺陷在分子半导体光伏中的作用
机译:裂变谱中子作用下含硼半导体单晶中辐射缺陷形成的特征
机译:X射线扩散散射法揭示半导体单晶中的微缺陷
机译:半导体中缺陷陷阱分布中的少数载流子动力学:在三角硒单晶中的应用。
机译:由超薄单晶有机半导体组成的高性能半导体膜
机译:直接观察半导体纳米管结中的局部缺陷状态
机译:半导体中的辐射损伤n1)辐照增强在硅中的扩散2)辐照半导体中的存储能量n3)辐照半导体中的缺陷迁移率
机译:用于观察半导体单晶的晶体缺陷的样品的制备和观察晶体缺陷的方法
机译:制备用于观察半导体单晶中晶体缺陷的样品的方法
机译:用于检测样品中缺陷的设备,例如用于半导体元件的晶片,基于不同方向上观察区域的图像数据之间的差异产生减影图像,以检测观察区域中的缺陷
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